翻譯|行業(yè)資訊|編輯:黃竹雯|2018-12-20 11:53:59.000|閱讀 434 次
概述:使用Parasoft測(cè)試影響分析獲得有關(guān)代碼更改的即時(shí)反饋從而加快軟件開(kāi)發(fā)流程
# 界面/圖表報(bào)表/文檔/IDE等千款熱門(mén)軟控件火熱銷(xiāo)售中 >>
Parasoft是一家專(zhuān)門(mén)提供軟件測(cè)試解決方案的公司,解決方案幾乎涵蓋了軟件開(kāi)發(fā)周期從開(kāi)始到結(jié)束所有的階段。使用Parasoft測(cè)試影響分析獲得有關(guān)代碼更改的即時(shí)反饋,您不必整日整夜的等待運(yùn)行全套單元測(cè)試來(lái)驗(yàn)證代碼更改的影響。相反,您可以立刻深入了解受代碼更改影響的測(cè)試,并在檢查核對(duì)時(shí)更有信心。
單元測(cè)試多年來(lái)一直是行業(yè)最佳實(shí)踐,隨著開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)不斷構(gòu)建測(cè)試套件,它們變得越來(lái)越大。擁有大量的單元測(cè)試經(jīng)驗(yàn)可以作為測(cè)試的良好基礎(chǔ),但這會(huì)對(duì)測(cè)試執(zhí)行時(shí)間產(chǎn)生很大影響,尤其是在單元測(cè)試擴(kuò)展到集成/組件級(jí)別測(cè)試時(shí)。
因此,了解測(cè)試內(nèi)容的關(guān)鍵在于了解每個(gè)代碼更改的確切影響、需要運(yùn)行哪些測(cè)試以及可能需要哪些新測(cè)試。測(cè)試影響分析是確定要執(zhí)行哪個(gè)測(cè)試來(lái)驗(yàn)證代碼更改,通過(guò)利用Parasoft進(jìn)行單元測(cè)試的測(cè)試影響分析,軟件開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)可以通過(guò)IDE或CI流程集中他們的測(cè)試工作并真正加速他們的開(kāi)發(fā)流程。
開(kāi)發(fā)人員可以輕松利用其工作流程中的優(yōu)勢(shì),通過(guò)將測(cè)試影響分析的結(jié)果直接集成到IDE中,將測(cè)試工作集中在正確的位置,并確保代碼更改得到全面測(cè)試,包括對(duì)相關(guān)代碼的間接影響。
開(kāi)發(fā)人員進(jìn)行測(cè)試影響分析除了可以得到早發(fā)現(xiàn)和修復(fù)Bug的效果以外,還可以:
將測(cè)試影響分析與CI流程相結(jié)合,可以節(jié)省大量時(shí)間。您可以將開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)的工作重點(diǎn)放在確保質(zhì)量的確切需求上。在處理變更時(shí),優(yōu)化開(kāi)發(fā)和構(gòu)建對(duì)于實(shí)現(xiàn)敏捷目標(biāo)至關(guān)重要。
更快的發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤比在軟件開(kāi)發(fā)生命周期中發(fā)現(xiàn)他們更好,也更便宜。開(kāi)發(fā)人員通常不知道要運(yùn)行哪些測(cè)試,因此他們要么不運(yùn)行任何測(cè)試,要么運(yùn)行得太少。
在這種情況下,它們依賴于運(yùn)行整個(gè)測(cè)試的套件的構(gòu)建,開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)在等待構(gòu)建過(guò)程中有關(guān)其更改的反饋處于空閑狀態(tài)。通過(guò)利用測(cè)試影響分析,開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)可以在將代碼提交到構(gòu)建之前運(yùn)行相應(yīng)的測(cè)試。
當(dāng)開(kāi)發(fā)人員在IDE中編寫(xiě)代碼時(shí),Jtest“受影響的單元測(cè)試”視圖提供了一個(gè)動(dòng)態(tài)演變的列表,其中列出了需要運(yùn)行哪些測(cè)試來(lái)執(zhí)行本地更改的代碼。然后,開(kāi)發(fā)人員需要做的只是右鍵單擊受影響的測(cè)試并執(zhí)行它,或者只是運(yùn)行所有受影響的測(cè)試。
Jtest會(huì)跟蹤已運(yùn)行的受影響的測(cè)試,并清楚地顯示已經(jīng)通過(guò)的測(cè)試和失敗的測(cè)試,使開(kāi)發(fā)人員可以輕松確定仍需要運(yùn)行哪些測(cè)試,或哪些測(cè)試失敗需要解決。當(dāng)所有測(cè)試都已運(yùn)行并且通過(guò),開(kāi)發(fā)人員對(duì)代碼的更改就會(huì)更有信心,可以安全地提交代碼并繼續(xù)執(zhí)行下一個(gè)開(kāi)發(fā)任務(wù)。
Parasoft Jtest支持Git或SVN源代碼控制的項(xiàng)目以及其他控制系統(tǒng)。Jtest提供Maven和Gradle插件,這些插件可以集成為Maven或Gradle的一部分運(yùn)行測(cè)試CI構(gòu)建作業(yè)中。
這些插件可以配置為完全自動(dòng)化測(cè)試套件,允許團(tuán)隊(duì)設(shè)置僅測(cè)試基于最新代碼更改的CI作業(yè),從而允許他們將運(yùn)行CI作業(yè)所花費(fèi)的時(shí)間縮短為數(shù)小時(shí)到數(shù)分鐘。
傳統(tǒng)的單元測(cè)試正在變得不適應(yīng)日漸龐大的測(cè)試任務(wù),及時(shí)的采用適合的操作方法來(lái)減輕開(kāi)發(fā)人員的測(cè)試負(fù)擔(dān),不僅是精力上的節(jié)省,也是直接經(jīng)濟(jì)效益上的改變。利用Parasoft Jtest進(jìn)行單元測(cè)試的測(cè)試影響分析,真正加速開(kāi)發(fā)流程,實(shí)現(xiàn)高效目標(biāo)。
本站文章除注明轉(zhuǎn)載外,均為本站原創(chuàng)或翻譯。歡迎任何形式的轉(zhuǎn)載,但請(qǐng)務(wù)必注明出處、不得修改原文相關(guān)鏈接,如果存在內(nèi)容上的異議請(qǐng)郵件反饋至chenjj@fc6vip.cn